Nastro Replica per la misurazione di profili di superficie trattati con sabbiatura. Inserendo il nastro replica TQC sulla superficie e strofinando su di esso, possono essere rilevati sia la Rt (rugosità totale) sia la profondità della rugosità del profilo, grazie ad uno spessimetro per film.

1. Nastro Replica TQC è composto da uno strato di schiuma comprimibile, apposto su un substrato di poliestere incomprimibile.
2.Quando viene premuto contro una superficie ruvida/abrasiva (acciaio), la schiuma collassa acquisendo un’impressione della superficie.
3.Posizionando il nastro compresso tra i cuscinetti del calibro di spessore micrometrico SP1570, e sottraendo il contributo del substrato incomprimibile (50 micrometri o 0,002 pollici), si ha la misura del profilo di superficie

LD2070
Modello: Testex-Nastro Range X-GROSSO: 1,5-4,5 mil (da 40 a 115μm)

LD2071
Modello: Testex- Nastro Range GROSSO: 0,8-2,0 mil (da 20 a 50 micron)

LD2065
Type Testex-tape Medium, bereik 0.1-2 µm

LD2066
Type: Testex-tape coarse Minus, bereik 12-25µm

LD2067
Type: Testex-tape X-coarse Plus, bereik 100-165µm